单晶检测单位哪里有？中析研究所实验室提供单晶检测服务，出具的检测报告支持扫码查询真伪。检测范围：硅单晶、砷化镓单晶、蓝宝石单晶、金刚石单晶，检测项目：晶体结构、晶向、位错密度、载流子浓度、电阻率、光学性质、机械性能。

检测周期：7-15个工作日

单晶检测范围

硅单晶、砷化镓单晶、蓝宝石单晶、金刚石单晶

单晶检测项目

晶体结构、晶向、位错密度、载流子浓度、电阻率、光学性质、机械性能

单晶检测方法

1. X 射线衍射：利用 X 射线与晶体中原子相互作用的衍射原理，分析晶体的结构和晶向。

2. 拉曼光谱：利用拉曼散射效应，分析晶体中分子的振动和转动模式，从而表征其晶体结构和缺陷。

3. 原子力显微镜：利用原子力显微镜的探针尖端与晶体表面之间的相互作用，成像晶体的表面形貌和缺陷。

4. 霍尔效应测量：利用霍尔效应，测量晶体的载流子浓度和电导类型。

5. 四探针测量：利用四探针法，测量晶体的电阻率和接触电阻。

6. 紫外可见分光光度计：利用紫外可见分光光度计，测量晶体的吸收光谱和透射光谱，分析其光学性质。

7. 力学测试机：利用力学测试机，测量晶体的硬度、杨氏模量和断裂韧性等机械性能。

单晶检测仪器

X 射线衍射仪、拉曼光谱仪、原子力显微镜、霍尔效应测量仪、四探针测量仪、紫外可见分光光度计、力学测试机

单晶检测标准

GB/T 1551-2021硅单晶电阻率的测定 直排四探针法和直流两探针法

GB/T 1553-2023硅和锗体内少数载流子寿命的测定 光电导衰减法

GB/T 1555-2023半导体单晶晶向测定方法

GB/T 1557-2018硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法

GB/T 1558-2023硅中代位碳含量的红外吸收测试方法

GB/T 3503-2015氧化钇

GB/T 4326-2006非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法

GB/T 5238-2019锗单晶和锗单晶片

GB/T 5252-2020锗单晶位错密度的测试方法

GB/T 6408-2018超硬磨料 立方氮化硼

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